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Zwei-Punkt Dixon-Technik
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Marcel Dominik Nickel
申请号:
DE102013217650
公开号:
DE102013217650B4
申请日:
2013.09.04
申请国别(地区):
DE
年份:
2016
代理人:
摘要:
Verfahren zur Magnetresonanz-Messung eines ersten spektralen Anteils (35) und eines zweiten spektralen Anteils (36) eines Untersuchungsobjekts (101) mittels einer Zwei-Punkt-Dixon-Technik bei einer ersten Echozeit (21) und einer zweiten Echozeit (22),wobei ein vorgegebenes Spektralmodell der Zwei-Punkt-Dixon-Technik den ersten spektralen Anteil (35), den zweiten spektralen Anteil (36), eine Phase (φ) zur ersten Echozeit (21) und eine Phasen-Evolution (ϕ) aufgrund von Feldinhomogenitäten und/oder Wirbelstromeffekten zwischen der ersten Echozeit (21) und der zweiten Echozeit (22) umfasst, undwobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst:– Erfassen von MR-Daten (25) für mehrere Bildpunkte (30, 30-1, 30-2) jeweils bei der ersten Echozeit (21) und bei der zweiten Echozeit (22),– Bestimmen eines im Vergleich zu den MR-Daten (25) niedriger aufgelösten Rechengitters, wobei jeder Gitterpunkt (40) des Rechengitters eine vorgegebene Anzahl von benachbarten Bildpunkten (30, 30-1, 30-2) der MR-Daten (25) umfasst,– für jeden Bildpunkt (30, 30-1, 30-2) der MR-Daten (25): Durchführen einer numerischen Optimierung, die eine optimierte Phase (φ) zur ersten Echozeit (21) und/oder eine optimierte Phasen-Evolution (ϕ) bestimmt,wobei die Optimierung auf einer Gleichung basiert, die davon ausgeht, dass die Phase (φ) zur ersten Echozeit (21) und/oder die Phasen-Evolution (ϕ) für alle Bildpunkte (30, 30-1, 30-2), die von einem Gitterpunkt (40) des Rechengitters umfasst sind, konstant ist,– analytisches Berechnen des ersten spektralen Anteils (35) und des zweiten spektralen Anteils (36) basierend auf der durch die Optimierung bestimmten Phase (φ) zur ersten Echozeit (21) und/oder der Phasen-Evolution (ϕ), wobei die Gleichung keine explizite Abhängigkeit von dem ersten und zweiten spektralen Anteil (35, 36) aufweist.A method for magnetic resonance - measurement of a first spectral portion (35) and a second spectral portion (36) of an examination subject (101) by means of a two - point -
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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