Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Charakterisierung von Plaque (LP, FP, CP) in einem interessierenden Bereich innerhalb eines Untersuchungsobjekts (10) mittels einer Mehrzahl von Bilddatensätzen (BDLE, BDHE). Die Bilddatensätze (BDLE, BDHE) wurden aus einer Mehrzahl von Projektionsdatensätzen rekonstruiert, welche mittels eines CT-Gerätes (2) unter Verwendung von jeweils unterschiedlichen Röntgenenergiespektren akquiriert wurden. Das Verfahren weist zumindest folgende Schritte auf: Die Bilddatensätze (BDLE, BDHE) werden erfasst, die eine Vielzahl von Bildpunkten umfassen. Spektrale Parameterwerte (SP1, SP2) werden bildpunktweise unter Verwendung von zumindest zwei Bilddatensätzen (BDLE, BDHE) ermittelt. Charakterparameterwerte (CP) werden bildpunktweise zur Charakterisierung der Plaques (LP, FP, CP) auf Basis der spektralen Parameterwerte (SP1, SP2) ermittelt. Die Erfindung betrifft ferner eine Analyseeinheit (25) sowie ein Computertomographiesystem (1).the invention concerns a procedure for the characterization of plaque (lp, fp,cp) in an area of interest within a untersuchungsobjekts (10) by means of a majority of bilddatens\u00e4tzen (bdle, bdhe).the bilddatens\u00e4tze (bdle, bdhe) were obtained from a majority of the projektionsdatens\u00e4tzen reconstructedwhich by means of a ct device (2) using different r\u00f6ntgenenergiespektren were acquired.the method has at least the following steps: the bilddatens\u00e4tze (bdle, bdhe) are recorded, a large number of pixels).spectral parameters (sp1, sp2) are bildpunktweise using at least two bilddatens\u00e4tzen (bdle, bdhe) is determined.charakterparameterwerte (cp) are bildpunktweise for characterization of plaques (lp, fp, cp) on the basis of the spectral parameters (sp1, sp2).the invention concerns also a analysis unit (25), and a computed tomography system (1).
