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光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法
专利权人:
CANON INC
发明人:
YAMADA TOMOHIRO,山田 朋宏
申请号:
JP2013009526
公开号:
JP2013178235A
申请日:
2013.01.22
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To solve such a problem that a conventional OCT apparatus has difficulty in high accuracy synchronization as it has a k trigger generation part and a measurement system to acquire an interference light having the information of an object separated, so that it has to send a trigger signal for sampling from the k trigger generation part to the measurement system, which tends to accumulate timing errors by a large number of electric devices.SOLUTION: An OCT apparatus includes: a light source part which changes the light wavelength an interference optical system which branches the light from the light source into an irradiation light to be irradiated to an object and a reference light, and generates an interference light by the reflection light of the light irradiated to the object and the reference light a light detection part which receives the interference light and an information acquisition part which acquires the information of the object on the basis of the time waveform of the intensity of the interference light. It also has a wavelength selector which is provided on the light path between the light source part and the light detection part, and has a wavelength selection characteristics of an equal wave number interval. The information acquisition part acquires a peak value of the time wavelength of the intensity of the interference light, and acquires the information of the object on the basis of the acquired peak value.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】 従来のOCT装置は、kトリガ発生部と物体の情報を有する干渉光を得るための測定系とが別であるため、サンプリングのためのトリガ信号をkトリガ発生部から測定系へ送る必要があり、多数の電気デバイスによるタイミング誤差が蓄積しやすく、高精度な同期が難しかった。【解決手段】 光の波長を変化させる光源部と、前記光源部からの光を物体へ照射する照射光と参照光とに分岐し、前記物体に照射された光の反射光と前記参照光による干渉光を発生させる干渉光学系と、前記干渉光を受光する光検出部と、前記干渉光の強度の時間波形に基づいて前記物体の情報を取得する情報取得部とを有し、前記光源部と前記光検出部との間の光路上に設けられた、等波数間隔の波長選択特性を有する波長選択器をさらに有し、前記情報取得部は前記干渉光の強度の時間波形のピーク値を取得し、取得した前記ピーク値に基づいて前記物体の情報を取得するOCT装置。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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