一种基于组织自荧光强度减少作为检测恶性实体瘤标志的检测方法及其应用
- 专利权人:
- 上海交通大学
- 发明人:
- 殷卫海,张铭超
- 申请号：
- CN201710557482.4
- 公开号：
- CN107300545A
- 申请日:
- 2017.07.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种基于组织自荧光强度减少作为检测恶性实体瘤标志的检测方法及其应用，包括以下步骤：(1)检测组织在单光子400‑700nm激发光或者双光子700‑1000nm激发光的激发下，所发出的波长为420‑800nm的自荧光；(2)比较步骤(1)中组织各个部位的自荧光强度，并将步骤(1)中的自荧光与已知恶性实体瘤患者和无恶性实体瘤人群的自荧光强度结果进行对比；(3)根据上述对比结果判定恶性实体瘤的位置和大小：恶性实体瘤发出的波长为420‑800nm的自荧光光强度，与该组织是恶性实体瘤的可能性呈负相关关系，自荧光光强度越低的部分是恶性实体瘤的可能性越大。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
