光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法
- 专利权人:
- 株式会社日立制作所
- 发明人:
- 小岛进一,山川惠介
- 申请号：
- CN201580047513.0
- 公开号：
- CN106659457B
- 申请日:
- 2015.06.08
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法。在光子计数CT装置中,与被照射的X射线的能谱形状无关,以简易的构成来高精度地估计被摄体的受辐射量。预先获得每个给定的能量范围的给定的强度的X射线所引起的受辐射量,并作为能带单位受辐射量数据来保持。若设定了拍摄条件,则根据设定的拍摄条件来照射,作为在无被摄体的状态下入射到检测器的X射线的能谱,获得每个能量范围的入射X射线的光子数(强度)。按照每个能量范围,将入射X射线的强度与能带单位受辐射量数据相乘,并将该结果关于整个能量范围来求和。由此来估计根据设定的拍摄条件而照射的照射X射线所引起的受辐射量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
