您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Systems and methods for obtaining images using absorption
专利权人:
Massachusetts Institute of Technology
发明人:
Hart, Douglas,Frigerio, Federico,Marini, Davide
申请号:
ES14158256
公开号:
ES2649488T3
申请日:
2009.07.24
申请国别(地区):
ES
年份:
2018
代理人:
摘要:
A device comprising: a luminescent layer (322) of a material adapted to form a forming layer when placed on a target surface of an object, the luminescent layer configured to emit light at a first wavelength and a second length of wave; a sensor (112) located to capture an intensity of the first wavelength and an intensity of the second wavelength in a direction from a location on the target surface, along the optical path (120) return to a location particular of the sensor; an absorbent medium (106), the medium between the sensor and the luminescent layer and the medium absorbing the first wavelength more than the second wavelength; and a processor (116) programmed to calculate a thickness of the medium in the direction of the location based on a function of the intensity of the first wavelength and the intensity of the second wavelength; and programmed to calculate a three-dimensional image of the target surface based on the calculated thickness.Un dispositivo que comprende: una capa luminiscente (322) de un material adaptado para formar una capa de conformación cuando se coloca sobre una superficie diana de un objeto, la capa luminiscente configurada para emitir luz a una primera longitud de onda y a una segunda longitud de onda; un sensor (112) situado para capturar una intensidad de la primera longitud de onda y una intensidad de la segunda longitud de onda en una dirección de una ubicación sobre la superficie diana, a lo largo del camino (120) óptico de retorno hasta una ubicación particular del sensor; un medio (106) absorbente, el medio situado entre el sensor y la capa luminiscente y absorbiendo el medio la primera longitud de onda más que la segunda longitud de onda; y un procesador (116) programado para calcular un grosor del medio en la dirección de la ubicación en base a una función de la intensidad de la primera longitud de onda y la intensidad de la segunda longitud de onda; y programado para calcular una imagen tridimensional de la superficie diana e
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充