A system and method for determining a quality of contact of an electroencephalogram (EEG) electrode is described. An electrode is connected to a user to detect brainwave activity from the user. An EEG application computes a voltage of the electrode, computes a derivative of the voltage of the electrode, computes a coefficient of variation from the derivative of the voltage, and determines a quality of contact of the electrode to the user based on the coefficient of variation.La présente invention concerne un système et un procédé de détermination dune qualité de contact dune électrode délectroencéphalogramme (EEG). Une électrode est connectée à un utilisateur pour détecter lactivité dondes cérébrales de lutilisateur. Une application EEG calcule une tension de lélectrode, calcule une dérivée de la tension de lélectrode, calcule un coefficient de variation de la dérivée de la tension, et détermine la qualité de contact de lélectrode avec lutilisateur sur la base du coefficient de variation.
