Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überwachen eines Röntgenapparats, umfassend die Schritte, Erstellen einer ersten Röntgenaufnahme (2) eines Prüflings (1), wobei der Prüfling (1) mindestens ein Referenzmaterial (S, Ti, Cr, Fe, Ni, Cu, Zn, Zr, Mo, Ag, Sn, W, Au, Pb, Luft) aufweist, der in der ersten Röntgenaufnahme (2) eine bestimmte Graustufe aufweist, Ermitteln eines primären Referenzwertes anhand der ersten Röntgenaufnahme (2) des Prüflings (1), wobei der primäre Referenzwert abhängig von der Graustufe des mindestens einen Referenzmaterials (S, Ti, Cr, Fe, Ni, Cu, Zn, Zr, Mo, Ag, Sn, W, Au, Pb, Luft) ermittelt wird, Erstellen einer zweiten Röntgenaufnahme des Prüflings (1) nach einer vorbestimmten Zeit nach der primären Röntgenaufnahme, Ermitteln eines sekundären Referenzwertes anhand der zweiten Röntgenaufnahme, wobei der sekundäre Referenzwert abhängig von der Graustufe des mindestens einen Referenzmaterials (S, Ti, Cr, Fe, Ni, Cu, Zn, Zr, Mo, Ag, Sn, W, Au, Pb, Luft) ermittelt wird, Vergleichen des primären und des sekundären Referenzwertes, Erzeugen einer Fehlermeldung, falls eine Abweichung zwischen dem primären und sekundären Referenzwert eine entsprechende Fehlergrenze überschreitet.The present invention relates to a method for monitoring an x-ray apparatus, comprising the steps of creating a first x-ray exposure (2) of a test piece (1), wherein the unit under test (1) at least one reference material (s, ti, cr, fe, ni, cu, zn, zr, mo, ag, sn, w, au, pb, air), which in a first x-ray exposure (2) has a certain gray level, determining a primary reference value on the basis of the first x-ray exposure (2) of the test piece (1), wherein the primary reference value as a function of the gray level of the at least one reference material (s, ti, cr, fe, ni, cu, zn, zr, mo, ag, sn, w, au, pb, air) is determined, creating a second x-ray exposure of the test piece (1) according to a predetermined period of time after the primary x-ray image, to determine a seco
