DRAELOS, Mark,IZATT, Joseph,KUO, Anthony,ORTIZ, Pablo,MCNABB, Ryan
申请号：
USUS2020/015598
公开号：
WO2020/160097A1
申请日:
2020.01.29
申请国别(地区):
US
年份:
2020
代理人:
摘要：
Systems and methods for imaging a target feature of a subject based on the tracked positions of the subject and the target feature are disclosed. According to an aspect, a system includes a scanner configured to image a target feature of a subject. The system includes a mechanism configured to move the scanner. Further, the system includes a subject tracker configured to track positioning of the subject. The system includes a feature tracker configured to track positioning of the target feature. A controller is configured to control the mechanism to move the feature tracker to a position such that the feature tracker is operable to track a position of the target feature. The controller controls the mechanism to move the scanner to a position such that the scanner is operable to image the target feature based on the tracked position of the target feature by the feature tracker.La présente invention concerne des systèmes et des procédés pour imager une caractéristique cible d'un sujet sur la base des positions suivies du sujet et de la caractéristique cible. Selon un aspect, un système comprend un scanner configuré pour imager une caractéristique cible d'un sujet. Le système comprend un mécanisme configuré pour déplacer le scanner. Le système comprend en outre un suiveur de sujet configuré pour suivre le positionnement du sujet. Le système comprend un suiveur de caractéristique configuré pour suivre le positionnement de la caractéristique cible. Un dispositif de commande est configuré pour commander le mécanisme pour déplacer le suiveur de caractéristique à une position de sorte que le suiveur de caractéristique puisse suivre une position de la caractéristique cible. Le dispositif de commande commande le mécanisme pour déplacer le scanner à une position de sorte que le scanner puisse imager la caractéristique cible sur la base de la position suivie de la caractéristique cible par le suiveur de caractéristique.
