光计测装置

• 收藏
• 分享

专利权人:

株式会社日立制作所

发明人:

木口雅史,舟根司,宇都木契,铃木敦

申请号：

CN200980125008.8

公开号：

CN102076267B

申请日:

2009.06.15

申请国别(地区):

CN

年份:

2013

代理人:

摘要：

本发明提供一种光计测装置。其是使用荧光体的近红外分光装置。不使光线和电子电路接触被检体地，用光观测被检体内的信息。使小型轻量的荧光体接触被检体，并在相离的位置上计测荧光强度。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/