A computed tomography method includes rotating an electron beam along an anode (104) disposed about an examination region (112) for a plurality of sampling intervals in which x-ray projections are sampled. The electron beam is swept during each sampling interval to generate a plurality of successive focal spots at different focal spot locations during each sampling interval, wherein the focal spots generated in a given sampling interval include a sub-set of the focal spots generated in a previous sampling interval. The x-ray projections radiated from each of the plurality of focal spots is sampled during each sampling interval. The resulting data is reconstructed to generate volumetric image data.Linvention concerne un procédé de tomographie informatique comprenant la rotation dun faisceau délectrons le long dune anode (104) disposée à proximité dune zone dexamen (112) pendant une pluralité dintervalles déchantillonnage au cours desquels des projections de rayons X sont échantillonnées. Le faisceau délectrons est ajusté pendant chaque intervalle déchantillonnage pour générer une pluralité de points focaux successifs à différents emplacements de point focal pendant chaque intervalle déchantillonnage, les points focaux générés dans un intervalle déchantillonnage donné comprenant un sous-ensemble des points focaux générés dans un intervalle déchantillonnage précédent. Les projections de rayons X rayonnées à partir de chaque point focal de la pluralité de points focaux sont échantillonnées pendant chaque intervalle déchantillonnage. Les données résultantes sont reconstruites pour générer des données dimage volumétriques.
