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MONITORING OF IMPLANTS AND OTHER DEVICES
专利权人:
发明人:
申请号:
EP10713047.8
公开号:
EP2411067A1
申请日:
2010.03.26
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要:
The present invention generally relates to implants and, in particular, to systems and methods for monitoring the condition of an implant within a subject. In some embodiments, an implant may be prepared that contains a tracer. After implantation, the tracer from the implant may be determined within a subject using any suitable method, depending on the tracer. As an example, the tracer may be determined by administering an indicator able to interact with the tracer to the subject. For instance, the indicator may be applied to the skin of the subject, and the indicator may give a different visual appearance based on the tracer, or otherwise exhibits a determinable change in a property of the indicator. Other aspects of the invention are generally directed to methods of making or using implants, methods of promoting the making or use of such implants, kits involving such implants, or the like.La présente invention porte dune manière générale sur des implants et, en particulier sur des systèmes et des procédés de surveillance de létat dun implant chez un sujet. Dans certains modes de réalisation, on peut préparer un implant contenant un traceur. Après implantation, le traceur à partir de limplant peut être déterminé chez un sujet à laide de tout procédé approprié, en fonction du traceur. Par exemple, le traceur peut être déterminé par administration dun indicateur capable dinteragir avec le traceur chez le sujet. Par exemple, lindicateur peut être appliqué à la peau du sujet, et lindicateur peut donner un aspect visuel différent du fait du traceur, ou bien présenter une modification déterminable dune propriété de lindicateur. Dautres aspects de linvention portent dune manière générale sur des procédés de fabrication ou dutilisation dimplants, sur des procédés destinés à favoriser la fabrication ou lutilisation de tels implants, et sur des ensembles mettant en jeu de tels implants ou similaires.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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