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電磁特性を計測する装置及び方法
专利权人:
ザ ユニバーシティ オブ バース
发明人:
マヌチェール ソレイマーニ
申请号:
JP2016513433
公开号:
JP2016524138A
申请日:
2014.05.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
At least one of by the frame apparatus for determining one or more electromagnetic properties of the target area (100, 400) and methods are described. One or more inductive measurement value corresponding to the target region (410) and one or more capacitive measured value corresponding to the target region (420) and is received. Estimates of the conductivity, is obtained based on at least the received one or more inductive measurement value (410) (430). This is at least the received one or more capacitive measurements together (420), are used to determine the dielectric constant measured value (440).対象領域の一つ又は複数の電磁特性を判定する装置(100、400)及び方法のうちの少なくとも一つが記述されている。対象領域に対応する一つ又は複数の誘導性計測値(410)と対象領域に対応する一つ又は複数の静電容量性計測値(420)とが受け取られる。導電率の推定値が、少なくとも受け取られた一つ又は複数の誘導性計測値(410)に基づいて取得される(430)。これは、少なくとも受け取られた一つ又は複数の静電容量性計測値(420)と共に、誘電率計測値(440)を判定するために使用される。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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