辐射断层成像系统及其控制程序
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- M.瓦塔纳贝,Y.伊施哈拉
- 申请号：
- CN201780012778.6
- 公开号：
- CN108697397A
- 申请日:
- 2017.02.16
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本公开提供一种X射线CT系统,所述X射线CT系统包括:存储装置,所述存储装置用于在其中存储参考发射条件,所述参考发射条件定义成具有被检体中的所需参考宽度和所需参考体厚中的至少一者,并且定义成考虑所述被检体内的X射线吸收程度;相机和距离传感器,用于检测所述被检体的宽度和体厚;以及发射条件设置部分76,所述发射条件设置部分用于在根据所检测到的所述被检体的宽度与所述参考宽度之间的差异,以及由所述光学传感器检测到的所述被检体的所述体厚与所述参考体厚之间的差异中的至少一个差异来校正所述参考发射条件之后,设置X射线管在成像中发射的X射线的发射条件。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
