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连续测量基质浓度的方法
专利权人:
爱科来株式会社
发明人:
胜木幸治,塚田理志
申请号:
CN201080011895.9
公开号:
CN102348414B
申请日:
2010.03.15
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
提供分析设备,该分析设备能够满足小型化和保证高灵敏度的要求并容易制造。本发明涉及基于向传感器施加电压时的响应而连续测量基质浓度的方法。本发明包括:响应电压施加步骤,施加响应电压E2,在该响应电压处获得由基质引起的响应;以及非响应电压施加步骤,施加非响应电压E1,在该非响应电压处不获得或基本不获得由基质引起的响应。优选地,交替反复地执行响应电压施加步骤和非响应电压施加步骤。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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