Disclosed is a method of calibrating an apparatus comprising at least one sensor for detecting one or more analytes of interest in a sample, the method comprising measuring a first set of responses of the at least one sensor to at least one first calibration solution having a known composition of the one or more analytes of interest measuring a second response of the at least one sensor to a second calibration solution having an approximately known composition of the one or more analytes of interest determining the composition of the second calibration solution from the difference between the first set of responses and the second response and periodically calibrating the at least one sensor with the second calibration solution using said determined composition. An apparatus and computer program product for executing this method are also disclosed.Linvention porte sur un procédé détalonnage dun appareil comprenant au moins un capteur pour la détection dun ou plusieurs analytes présentant un intérêt dans un échantillon, le procédé comprenant la mesure dun premier ensemble de réponses dudit ou desdits capteurs à au moins une première solution détalonnage ayant une composition connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt la mesure dune seconde réponse dudit ou desdits capteurs à une seconde solution détalonnage ayant une composition approximativement connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt la détermination de la composition de la seconde solution détalonnage à partir de la différence entre le premier ensemble de réponses et la seconde réponse et périodiquement létalonnage dudit ou desdits capteurs avec la seconde solution détalonnage à laide de ladite composition déterminée. Linvention porte également sur un appareil et un produit programme informatique pour lexécution de ce procédé.
