用于确定脱粒系统中的脱粒损失的系统及方法
- 专利权人:
- 凯斯纽荷兰工业(哈尔滨)机械有限公司
- 发明人:
- T·马耶,B·M·A·米索滕,B·莱纳茨
- 申请号：
- CN202211107893.0
- 公开号：
- CN115804294A
- 申请日:
- 2022.09.13
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2023
- 代理人:
- 摘要：
- 本公开涉及用于确定脱粒系统中的脱粒损失的系统及方法。提供了用于确定脱粒系统(24)中的脱粒损失的方法和系统(100)。该方法包括用频率在0.1‑10THz范围内的电磁波照射脱粒系统(24)的至少一部分下游的作物样本(500)，测量作物样本(500)对电磁波的反射和/或透射，基于测得的反射和/或透射建立作物样本(500)的至少二维太赫兹图像，在太赫兹图像中识别至少一个谷穗，在识别出的谷穗中识别至少一个谷粒，以及基于识别出的谷粒确定脱粒损失。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
