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一种基于苹果表面缺陷检测系统的苹果表面缺陷检测方法
- 专利权人:
- 北京农业智能装备技术研究中心
- 发明人:
- 赵春江,张驰,黄文倩,郭志明,王庆艳,李江波,李斌
- 申请号：
- CN201210300784.0
- 公开号：
- CN102854192B
- 申请日:
- 2012.08.22
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 王莹
- 摘要：
- 本发明公开了一种使用苹果表面缺陷检测系统进行苹果表面缺陷检测的方法，所述方法包括：S1，获取每个近红外点阵结构光光斑在参考平面的位置；S2，获取传送装置上的苹果的彩色图像，并通过阈值分割的方法去除苹果的背景区域以及分割出苹果区域中灰度值较低的感兴趣区域；S3，利用带有滤光片的黑白工业相机获取投射在苹果表面上的近红外结构光光斑图像，对图像逐列进行扫描，在非感兴趣区域搜索两个距离最近光斑，通过将苹果表面的光斑位置信息与参考平面的光斑位置信息进行对比，获取苹果表面深度变化的信息以得到凹陷区域；S4，将S2中的感兴趣区域与S3中的凹陷区域相比较，将感兴趣区域中与凹陷区域不重合的区域视为苹果表面的缺陷区域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
