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X射线检查装置
专利权人:
株式会社岛津制作所
发明人:
奥野智晴
申请号:
CN201080070374.0
公开号:
CN103249364B
申请日:
2010.11.26
申请国别(地区):
CN
年份:
2015
代理人:
摘要:
当检测出收纳于X射线检测器收纳部的平板检测器(7)的被检者的体轴方向的尺寸时,将电位计(64)的检测值与存储在最大尺寸信息存储部(102)中的X射线检测器收纳部所能收纳的平板检测器(7)的被检者的体轴方向的最大尺寸信息进行比较。而且,在收纳于X射线检测器收纳部的平板检测器(7)的被检者的体轴方向的尺寸与X射线检测器收纳部所能收纳的平板检测器(7)的最大尺寸一致的情况下,基准位置信息切换部(103)能够对存储在基准位置信息存储部(101)中的基准位置信息进行切换。在该状态下,当操作者通过按下操作部(104)的开关等对操作部(104)进行了规定的操作时,存储在基准位置信息存储部(101)中的基准位置信息被变更为预先设定的基准位置。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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