The present description relates according to one aspect to a method for evaluating the quality of the measurement of an optical wavefront, said measurement being obtained by means of a wavefront analyser by direct measurement, the method comprising: the acquisition (10) of an optoelectronic signal for the measurement of the wavefront by means of a wavefront sensor, said sensor comprising a two-dimensional detector； the determination (11) on the basis of said optoelectronic signal of a parameter characteristic of a parasitic component of the optoelectronic signal； the evaluation (12) of a quality factor of the measurement of the wavefront as a function of said at least one parameter characteristic of the parasitic component of the signal； the display (13) of a level of quality of the measurement destined for a user as a function of said quality factor.La présente description concerne selon un aspect une méthode d'évaluation de la qualité de la mesure d'un front d'onde optique, ladite mesure étant obtenue au moyen d'un analyseur de front d'onde par mesure directe, la méthode comprenant : l'acquisition (10) d'un signal optoélectronique pour la mesure du front d'onde au moyen d'un senseur de front d'onde, ledit senseur comprenant un détecteur bidimensionnel； la détermination (11) à partir dudit signal optoélectronique d'un paramètre caractéristique d'une composante parasite du signal optoélectronique； l'évaluation (12) d'un facteur de qualité de la mesure du front d'onde en fonction dudit au moins un paramètre caractéristique de la composante parasite du signal； l'affichage (13) d'un niveau de qualité de la mesure à destination d'un utilisateur en fonction dudit facteur de qualité.
