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多模式成像系统、设备和方法
专利权人:
光学实验室成像公司
发明人:
德斯蒙德·阿德勒,约瑟夫·斯密特,马蒂亚斯·达尔贝里,帕尔·古斯塔夫松,乌尔里克·许比内特,芒努斯·萨穆埃尔松,约翰·斯瓦内鲁德赫
申请号:
CN201280035401.X
公开号:
CN103959043B
申请日:
2012.05.31
申请国别(地区):
CN
年份:
2016
代理人:
摘要:
本发明部分地涉及图像数据收集系统。该系统可以包括:干涉仪,其具有包括长度为L1的第一光纤的基准臂和包括长度为L2的第二光纤的样本臂;以及被配置为与光学断层成像探测器对接的第一旋转耦合器,其中,旋转耦合器与样本臂光学通信。在一个实施方式中,L2为约5米以上。第一光纤和第二光纤可以均被布置于共用保护套中。在一个实施方式中,系统进一步包括光学元件,被配置为调节基准臂的光学路径长度,其中,光学元件与基准臂光学通信,并且其中,光学元件是透射或反射的。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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