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一种基于级联马赫曾德干涉仪的光谱相位校准系统
专利权人:
杭州电子科技大学
发明人:
王玲,丁志华,沈毅,颜杨志,吴开华
申请号:
CN201320028638.7
公开号:
CN203016921U
申请日:
2013.01.18
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本实用新型公开了一种基于级联马赫曾德干涉仪的光谱相位校准系统,本实用新型级联MZI干涉光谱信号经傅立叶变换、滤波及逆傅立叶变换分离出光程差d1接近系统最大成像深度的第一参考干涉信号和光程差d2接近零光程的第二参考干涉信号,第一参考干涉信号实现波数采样的实时线性标定和校准最大成像深度处光谱相位跳变的分数部分,第二参考干涉信号确定最大成像深度光谱相位跳变的2整数倍,起始波数跳动引起的相位跳变与深度成线性关系,两路参考干涉信号结合可以校正任意深度处实际的相位跳变。既实现了光谱实时线性标定,确保了光谱相位跳变的校准精度,解决了光谱相位跳变校准的2混淆问题,可实现实时、高灵敏的位相探测和位相图像的重建。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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