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获取断层摄影和三维表面图像的X射线计算断层摄影装置
专利权人:
韩国电气研究院
发明人:
陈承吾,许荣,金钟旭,姜旭,裵秀真
申请号:
CN200580045730.2
公开号:
CN101094609B
申请日:
2005.11.23
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
本发明涉及一种用于从通过用X射线扫描对象而检测的数据获取图像信息的X射线计算断层摄影装置,更为具体地涉及一种用于获取计算断层摄影的图像和固体表面图像的X射线计算断层摄影装置,其能够通过获取对象的断层摄影信息和对象的表面颜色信息以形成对象的断层摄影的图像和三维表面图像,从而向用户提供可视图像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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