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分光測定装置
专利权人:
KONICA MINOLTA ADVANCED LAYERS INC
发明人:
NAKAMURA KENTO,中村 健人,SHIBATANI KAZUHIRO,柴谷 一弘,TANIJIRI YASUSHI,谷尻 靖,YAGI KATSUYA,八木 克哉,FUJII HIDEYUKI,藤井 英之
申请号:
JP2011010870
公开号:
JP2012150083A
申请日:
2011.01.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrometer using LEDs, capable of irradiating an object to be measured with light having a target wavelength without conducting selection of the LEDs.SOLUTION: A spectrometer includes an LED 1 and an LED 2. The LED 1 has a peak wavelength of 705 nm and a half width of 20 nm, as shown in a curve G31. The LED 2 has a peak wavelength of 715 nm and a half width of 20 nm, as shown in a curve G32. When the LED 1 and the LED 2 simultaneously irradiate, combined light having a radiation intensity distribution of a curve G33 is obtained. Accordingly, the spectrometer can irradiate an object S to be measured with combined light having a target peak wavelength of 710 nm.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】LEDを用いた分光測定装置において、LEDの選別を行わなくても、目標とする波長の光を測定対象に照射する。【解決手段】グラフG31に示すように、LED1はピーク波長が705nmであり、半値幅が20nmである。グラフG32に示すように、LED2はピーク波長が715nmであり、半値幅20nmである。したがって、LED1とLED2とを同時に照射するとグラフG33の放射強度分布を持つ合成光が得られる。これにより、目的とする710nmのピーク波長を持つ合成光を測定対象Sに照射することができる。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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