本发明公开了一种基于噬菌体展示技术定位的加工破坏的β‑伴大豆球蛋白β亚基抗原区域及筛选方法，所述抗原区域的氨基酸序列如SEQ ID NO.15所示。本发明利用一系列生物信息学软件并参照PDB数据库已解析的β‑伴大豆球蛋白三维晶体结构，以噬菌体展示技术研究超高压破坏β‑伴大豆球蛋白的抗原区域，通过在噬菌体表面呈现β‑伴大豆球蛋白β亚基及其overlapping蛋白，对超高压方法导致β‑伴大豆球蛋白β亚基抗原性降低的区域进行精确定位。为食品工业提供加工方法筛选的理论依据，也可以进一步发展出快速检测加工食品脱敏效果的应用产品。
