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X射线源扫描参数调节方法、装置、计算机设备及可读存储介质
专利权人:
上海联影医疗科技有限公司
发明人:
祝国平,董斌,张铁山,吴景林,褚旭
申请号:
CN201910425379.3
公开号:
CN110215225A
申请日:
2019.21.05
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明提供一种X射线源扫描参数调节方法,所述方法包括:获取X射线源扫描参数,所述X射线源扫描参数包括靶盘的旋转周期及X射线源的能量周期;确定所述旋转周期与能量周期的比值;若所述比值不满足预设条件,则调节所述X射线源扫描参数,以使所述比值满足所述预设条件;所述预设条件为第一预设条件或第二预设条件,所述第一预设条件为所述旋转周期与能量周期的比值不等于整数,所述第二预设条件为所述旋转周期与能量周期的比值等于半整数。本发明提供的X射线源扫描参数调节方法,通过调节阳极靶盘旋转周期与X射线源能量周期,使得阳极靶盘旋转周期不为X射线源能量周期的整数倍,从而避免“阳极靶盘能量拍频现象”的出现,降低阳极靶盘的热致变形,提升阳极靶盘的寿命。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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