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고해상도 표면 측정 시스템 및 방법
专利权人:
MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
发明人:
ADELSON EDWARD H.,아델슨 에드워드 에이치.,JOHNSON MICAH K.,존슨 미카 케이.
申请号:
KR1020147004824
公开号:
KR1020140041890A
申请日:
2012.07.30
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention provides a system, apparatus and method for recording and measuring the surface topography . The present invention is the elastomer having a predetermined volume , and provides a high resolution graphics retro reflective sensor comprising a thin, opaque membrane . Reflective membrane is adapted to conform to the specimen in contact with the reflective membrane . The present invention provides a high-resolution visualization system comprising a sensor and light source retro graphics . In addition , the retro graphics sensor , light source and the imaging device , the processing component resolution measurement system is provided comprising a .본 발명은 표면 토포그래피를 기록 및 측정하기 위한 시스템, 장치 및 방법을 제공한다. 본 발명은 소정 체적의 엘라스토머와, 얇고 불투명한 반사성 멤브레인을 포함하는 고해상도 레트로그래픽 센서를 제공한다. 반사성 멤브레인은 반사성 멤브레인과 접촉하는 표본과 부합하도록 구성되어 있다. 본 발명은 레트로그래픽 센서와 조명 공급원을 포함하는 고해상도 시각화 시스템을 제공한다. 또한, 레트로그래픽 센서와, 조명 공급원과, 이미징 장치와, 처리 구성요소를 포함하는 고해상도 측정 시스템이 제공된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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