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METHOD AND DEVICE FOR SELECTING AND SAMPLING PI LINES, AND METHOD AND DEVICE FOR RECONSTRUCTING COMPUTED TOMOGRAPHY (CT) IMAGE
专利权人:
TSINGHUA UNIVERSITY
发明人:
XING, YUXIANG,ZHANG, LI,CHEN, ZHIQIANG,ZHANG, WENYU,ZHAO, ZIRAN,XIAO, YONGSHUN,LI, LIANG,HUANG, ZHIFENG
申请号:
CNCN2011/073654
公开号:
WO2012/022171A1
申请日:
2011.05.04
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要:
A method and a device for selecting and sampling PI lines, and a method and a device for reconstructing a computed tomography (CT) image are provided, wherein the method for selecting and sampling PI lines includes: selecting the PI lines whose projections are parallel each other and distribute equidistantly in the X-Y plane in a spiral track, and selecting sampling points equidistantly in the PI lines. The method for reconstructing the computed tomography image reconstructs the selected sampling points according to projection data related to the PI lines selected using the method for selecting and sampling PI lines, and samples the reconstruction result into uniform pixels in a rectangular coordinate system. In addition, the device for selecting and sampling PI lines and the device for reconstructing the computed tomography image are respectively corresponding to the method for selecting and sampling PI lines and the method for reconstructing the computed tomography image. Using the present solution, the sampling points with global consistency can be acquired.La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour sélectionner et échantillonner des lignes PI, et un procédé et un dispositif pour reconstruire une image tomodensitométrique (TDM), le procédé pour sélectionner et échantillonner des lignes PI comprend : la sélection des lignes PI dont les projections sont mutuellement parallèles et réparties de façon équidistante dans le plan X-Y dans un trajet en spirale, et la sélection de points déchantillonnage de façon équidistante dans les lignes PI. Le procédé pour reconstruire limage tomodensitométrique reconstruit les points déchantillonnage sélectionnés en fonction des données de projection associées aux lignes PI sélectionnées en utilisant le procédé pour sélectionner et échantillonner des lignes PI, et échantillonne le résultat de reconstruction en pixels uniformes dans un système de coordonnées rectangulaire. De plus, le dispositif pour sélectionner
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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