您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

光干渉断層法のアイレジストレーション法
专利权人:
オプトビュー,インコーポレーテッド
发明人:
ウェイ,ジェイ,ジャン,ベン,クウェイ,ルウ,シュウ-シェン,デン,ヤンムウ
申请号:
JP2011505018
公开号:
JP5739323B2
申请日:
2009.04.14
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
< Topic >Eye registration and the method of being used for the inspection of the eye are disclosed.SolutionsThe step where eye registration and the method of being used for the inspection of the eye are disclosed, as for some execution forms of this method, acquire the scan pattern scanning line group The step which forms the picture group on the basis of the aforementioned scanning line group The step which the aforementioned picture group the alignment is done The step which forms the feature map on the basis of the aforementioned scan pattern scanning line group The feature group the step which specifies on the aforementioned feature map And the step which records the information of position of the feature group and, it includes.< Selective figure >Figure 2A【課題】アイレジストレーション及び眼の検査に使用される方法を開示する。【解決手段】アイレジストレーション及び眼の検査に使用される方法が開示され、この方法の幾つかの実施形態は、走査パターン走査線群を取得するステップと;画像群を前記走査線群に基づいて形成するステップと;前記画像群を位置合わせするステップと;特徴マップを前記走査パターン走査線群に基づいて生成するステップと;特徴群を前記特徴マップ上に特定するステップと;そして特徴群の位置情報を記録するステップと、を含む。【選択図】図2A
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充