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一种嵌入式PROM测试系统及实现方法
专利权人:
北京空间机电研究所
发明人:
张京晶,万旻,翟国芳,马飞,包斌
申请号:
CN201410353069.2
公开号:
CN104200846A
申请日:
2014.07.23
申请国别(地区):
中国
年份:
2014
代理人:
安丽
摘要:
本发明涉及应用于航天相机电子学中地面部分的一种嵌入式PROM测试系统及实现方法,包括上位机、测试FPGA、自定义接口以及存储单元。测试时,上位机将软核开发模块生成的软核代码和硬核开发模块生成的硬核代码合并后传送给测试FPGA;上位机将调试指令传送给测试FPGA后,资源调用模块从存储单元中读取PROM的测试数据,通过自定义接口模块对被测PROM进行配置和测试操作;测试结果返回给上位机,完成对PROM的功能测试。本发明大大缩短了PROM测试模块的开发时间,同时具有更高的可靠性。由于本发明简化了验证模块编写中的底层设计细节问题,使得不同项目不同型号的PROM只需要经过合理的参数配置就可以通过嵌入式方法与系统连接并进行测试,提高了设计的复用性和通用性。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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