一种基于双丝模型的CT系统结构参数测量方法及装置
- 专利权人:
- 清华大学
- 发明人:
- 刘锡明,吴志芳,苗积臣,丛鹏,童建民
- 申请号：
- CN201410599559.0
- 公开号：
- CN104406989B
- 申请日:
- 2014.10.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于双丝模型的CT系统结构参数测量方法及装置，通过获取两条与旋转轴平行的金属丝在CT系统中的特定旋转位置下在探测器上的投影位置及位置关系，计算获得CT回转中心轴线、重建坐标原点的位置、射线源至探测器的距离、射线源至旋转中心的距离、面阵探测器扭转角等多个CT系统结构参数。该方法简单实用，适用于线阵和面阵两种探测器的CT系统，可用于CT系统结构参数的获取和CT系统调校，有助于提高CT图像重建质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
