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X射线检查装置及方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- C·博伊默,G·福格特米尔
- 申请号：
- CN200980150981.5
- 公开号：
- CN102256548B
- 申请日:
- 2009.12.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及通过逆几何CT而实现谱X射线成像设备的检查装置和相应的方法。所提出的检查装置包括：X射线源单元(14)，其包括用于在多个位置处发射X射线(24)的多个X射线源(15)；X射线探测单元(18)，其用于探测从一个或多个所述X射线源(15)发射的且穿透所述X射线源单元(14)和所述X射线探测单元(18)之间的检查区(19)之后的X射线，并且用于生成探测信号；处理单元(36)，其用于处理所生成的探测信号；以及控制单元(26)，其用于控制所述X射线源(15)来随后单独地或成组地以至少两个不同的能量谱发射X射线，使得在切换特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)从而以不同的能量谱发射X射线的时间间隔中，关闭所述特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)，并且，随后开启一个或多个其他X射线源(15b、15c)或其他成组的X射线源(15b、15e、15h；15c、15f、15i)以发射X射线。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
