利用石墨烯修饰高电子迁移率晶体管测量DNA杂化方法
- 专利权人:
- 北京科技大学
- 发明人:
- 张跃,章潇慧,廖庆亮,刘硕,王钦玉,张铮
- 申请号：
- CN201310113326.0
- 公开号：
- CN104101626B
- 申请日:
- 2013.04.02
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 皋吉甫
- 摘要：
- 本发明涉及利用石墨烯修饰高电子迁移率晶体管测量DNA的杂化方法，利用石墨烯修饰高电子迁移率晶体管并且固定探针DNA，进行DNA杂化的测量，实现快速、灵敏及新颖电流响应模式的DNA杂化检测的利用石墨烯修饰高电子迁移率晶体管测量DNA杂化的方法，该方法首先利用分子束外延法构建高电子迁移率晶体管；随后利用石墨烯将探针DNA固定到HEMT栅极表面；最后滴加目标DNA进行杂化测量获得响应电流。利用本方法可实现对实际样品的DNA杂化检测。本方法简化了探针DNA固定到器件表面的过程，舍弃了复杂的化学过程。本方法中获得了新颖的DNA杂化识别模式。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
