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병변 검출 장치 및 방법
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
CHO, BAEK HWANKR,조백환,SEONG, YEONG KYEONGKR,성영경,KIM, YE HOONKR,김예훈,KIM, JUNG HOEKR,김중회,PARK, MOON HOKR,박문호,YU, SIN SANGKR,유신상
申请号:
KR1020130075917
公开号:
KR1020150002284A
申请日:
2013.06.28
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
The present invention relates to a device and a method for detecting a lesion, which can detect a lesion and improve the accuracy of diagnosis of the detected lesion by adaptively determining a parameter value of a lesion detection algorithm using a feature value extracted from an inputted medical image and a parameter prediction model.COPYRIGHT KIPO 2015병변 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 입력된 의료 영상에서 추출된 특징값 및 파라미터 예측 모델을 이용하여 병변 검출 알고리즘의 파라미터 값을 적응적으로 결정할 수 있도록 함으로써 병변 검출과 검출된 병변에 대한 진단 정확도를 향상시킬 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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