足长测量方法及系统

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专利权人:

上海银晨智能识别科技有限公司

发明人:

王晓平,赵文忠,曾文斌

申请号：

CN201110268023.7

公开号：

CN102988052B

申请日:

2011.09.09

申请国别(地区):

CN

年份:

2014

代理人:

摘要：

本发明提供了一种足长测量方法，包括：获取足部的图像，所述获取的图像中，包含若干相互平行的刻度线，足部的径向方向与所述刻度线相交；对所述图像进行边缘增强、二值化处理，并确定感兴趣区域；在所述感兴趣区域内获得足部在径向方向上的两个端点；根据所述两个端点及所述刻度线，计算出足长值。本发明还提供一种足长测量系统。与现有技术相比，本发明图像分析模块的设置及其对足部图像的机器处理、分析、计算，使足长测量过程实现了自动化，从而减少了人工操作量。另外，刻度线的设置，使得图像的缩放比例可通过刻度线的变化反应出来；更简单地，可以根据足部长度与单位刻度之间的倍数关系，来直接确定足长。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/