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観察システム、光学部品、及び観察方法
专利权人:
OLYMPUS CORPORATION
发明人:
KANEKO, Yoshioki,金子 善興
申请号:
JPJP2014/082875
公开号:
WO2016/092674A1
申请日:
2014.12.11
申请国别(地区):
WO
年份:
2016
代理人:
摘要:
Provided is an observation system capable of accurately acquiring three-dimensional image information from a desired part of a sample. The observation system 1 comprises: a hole unit 13 provided with a plurality of holes 134 arrayed on a plane orthogonal to the optical axis of an objective lens 14 and allows excitation light to pass therethrough along a direction parallel to the optical axis and an imaging unit 16 which receives fluorescent light via the objective lens 14 and at least one of the plurality of holes 134 and outputs an image signal, the fluorescent light generated by irradiating a sample SP with the excitation light passing through at least one of the plurality of holes 134 and the objective lens 14. The plurality of holes 134 includes a plurality of types of holes having mutually different pinhole positions where the beam diameter of the excitation light passing through each hole is minimized in the light axis direction. The imaging unit 16 separates the received fluorescent light in accordance with the arrangement of the holes 134 through which the fluorescent light passes, on the X-Y plane, and outputs an image signal for each separated fluorescent light.La présente invention concerne un système dobservation apte à acquérir de façon précise des informations dimage tridimensionnelle à partir dune partie souhaitée dun échantillon. Le système dobservation (1) comprend : une unité (13) de trou pourvue dune pluralité de trous (134) disposés en réseau sur un plan orthogonal à laxe optique dune lentille dobjectif (14) et permettant à une lumière dexcitation de la traverser le long dune direction parallèle à laxe optique et une unité dimagerie (16) qui reçoit une lumière fluorescente par lintermédiaire de la lentille dobjectif (14) et dau moins un trou parmi la pluralité de trous (134) et qui sort un signal dimage, la lumière fluorescente générée par exposition dun échantillon (SP) au rayonnement de la lumière dexcitation traversant au moins un trou parmi
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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