Grid installation device for slit scan differential phase contrast imaging

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专利权人:

コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ;パウル・シェラー・インスティトゥート

发明人:

コーラー，トマス,レッスル，エバルト,バルテレス，マティアス,ワン，ジェンティエン,スタンパノニ，マルコ

申请号：

JP2019563146

公开号：

JP2020519391A

申请日:

2018.05.14

申请国别(地区):

JP

年份:

2020

代理人:

摘要：

An installation structure (MS) for interference imaging and an interference imaging device including the installation structure (MS). The installation structure comprises at least one curved surface (Sd) for resting and receiving an interference grating (Gi), the surface (Sd) having a plurality of apertures (SL), the grating (Gi) being , So received, covers at least one of the apertures.干渉撮像のための設置構造（ＭＳ）およびこれを備える干渉撮像機器である。設置構造は、干渉格子（Ｇｉ）をその上に安置して受けるための少なくとも１つの湾曲面（Ｓｄ）を備え、面（Ｓｄ）は複数のアパーチャ（ＳＬ）を有し、格子（Ｇｉ）は、そのように受けられると、当該アパーチャのうち少なくとも１つを覆う。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/