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방사선 촬영장치 및 그 제어 방법
专利权人:
发明人:
하야시다 신스케
申请号:
KR1020117029485
公开号:
KR1013677470000B1
申请日:
2010.04.13
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
A radiographic apparatus which includes an X-ray irradiation unit which irradiates X-rays and an X-ray detection unit which detects an X-ray image of an object irradiated by the X-ray irradiation unit includes a first defect detection unit which detects, as a position-dependent defect, a pixel, of X-ray images, whose pixel value is always abnormal, and acquires position information of the defect in the X-ray image, a second defect detection unit which detects, as a defect, a pixel, of the X-ray images, which temporarily becomes abnormal dependent on the lapse of time, and a determination unit which determines a correction method for correcting the pixel value of the pixel in which the abnormality is detected by the second defect detection unit, based on the information indicating the imaging condition.X선을 조사하는 Ⅹ선 조사부와, Ⅹ선 조사부에 의해 조사된 피검체의 Ⅹ선 화상을 검출하는 Ⅹ선 검출부를 갖는 방사선 촬영장치는, Ⅹ선 화상 중 화소값이 상시 이상이 되는 화소를, 위치에 의존한 결함으로서 검출하고, Ⅹ선 화상에 있어서의 결함의 위치 정보를 취득하는 제1 결함검출부와, Ⅹ선 화상 중 시간의 경과에 의존해서 일시적으로 이상이 되는 화소를 결함으로서 검출하는 제2 결함검출부와, 제2 결함검출부에 의해 이상이 검출된 화소의 화소값을 보정하기 위한 보정방법을, 촬영 조건을 나타내는 정보에 근거해 결정하는 결정부를 구비한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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