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SYSTÈME DE MESURE FONDÉ SUR LA LUMIÈRE, PROCÉDÉ DE MESURE DE LA DÉNATURATION DU COLLAGÈNE ET SYSTÈME DE TRAITEMENT DE LA PEAU
专利权人:
Koninklijke Philips N.V.
发明人:
申请号:
EP15728480.3
公开号:
EP3164190A1
申请日:
2015.06.04
申请国别(地区):
EP
年份:
2017
代理人:
摘要:
The measurement system 110 comprises a light source 120 configured and arranged for emitting a light beam via a polarization modulator 130 to a target position inside the skin 160, wherein the polarization modulator 130 is configured and arranged to simultaneously provide, in use, a first and a second region in a cross-section of the light beam in the target position, the first and the second region being distinct and having a corresponding first and second direction of polarization, the first and the second polarization direction being different from each other, and the measurement system also comprises a detection unit 150 to simultaneously detect a first and a second intensity of reflected light 145, the first intensity corresponding to light reflected from the first region of the light beam in the target position 160, and the second intensity corresponding to light reflected from the second region of the light beam in the target position 160, and the measurement system further comprises a processor being coupled to the detection unit 150 for determining a difference between the first and the second intensity.L'invention concerne un système de mesure 110 comprenant une source de lumière 120 conçue et agencée pour émettre, par l'intermédiaire d'un modulateur de polarisation 130, un faisceau lumineux en direction d'une position cible située à l'intérieur de la peau 160, le modulateur de polarisation 130 étant conçu et agencé de façon à permettre d'obtenir simultanément, en cours d'utilisation, des première et seconde régions au sein de la section transversale du faisceau lumineux dans la position cible, les première et seconde régions étant distinctes et présentant des première et seconde directions de polarisation, les première et seconde directions de polarisation étant différentes l'une de l'autre. Le système de mesure comprend également une unité de détection 150, permettant de détecter simultanément des première et seconde intensités de lumière réfléchie 145,
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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