光学测量装置和用于光学测量的方法
- 专利权人:
- 日东电工株式会社
- 发明人:
- 吴清文,M·I·B·M·卡西姆
- 申请号：
- CN201280003880.7
- 公开号：
- CN103327886B
- 申请日:
- 2012.01.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 提供了一种基于反射的光学测量装置和用于基于反射的光学测量的方法。该装置包括：照射和检测组件，其被配置为向用于测量的用户的表面部分输出光，以检测从所述用户的表面部分反射的输出光作为信号；耦合部件，其被配置为在无缆配置中耦合到个人移动处理装置；测量表面，其被配置为允许用户的表面部分接入所述测量表面；其中通过无支座的光学装置提供所述接入，从而允许用户的表面部分从单个平面中的全部方向接入所述测量表面；并且另外其中所述耦合部件被配置为将检测信号传输到所述个人移动处理装置。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
