面向光学传感器的一维光谱数据特征检测方法
- 专利权人:
- 上海交通大学
- 发明人:
- 曹英杰,祝永新,荣国光,吴超,谢七曜
- 申请号：
- CN201110212578.X
- 公开号：
- CN102323241A
- 申请日:
- 2011.07.27
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 王毓理
- 摘要：
- 一种光学通信技术领域的面向光学传感器的一维光谱数据特征检测方法，根据光学传感器所得待测分子溶液反射率-波长的反射谱一维曲线上待检测的特征尺寸制定降采样因子，通过对原始数据依次进行降采样、均值滤波和线性检测，得到一维曲线的粗检测特征点，如峰值和谷值；然后以特征点为中心，在原始数据周围进行第二次线性检测得到原始一维曲线的精确特征点。最后将该特征点位置减去基准位置得到红移，并利用红移与溶液浓度变化的线性关系得出待测分子溶液的浓度。本发明相比于使用基于傅立叶变换的传统信号处理方法，算法效率和硬件资源消耗大为减小，能够提升检测设备的性能，提升检测设备的便携性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
