用于量化正电子发射断层造影中放射性示踪物记录的方法
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- 阿恩·亨格勒,拉尔夫·斯特雷克
- 申请号：
- CN200810144975.6
- 公开号：
- CN101371788B
- 申请日:
- 2008.08.18
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种对正电子发射断层造影测量感兴趣的患者身体区域中至少一种放射性示踪物的记录进行量化的方法，其中，在考虑至少一个关于患者血管(14)的渗透性、特别是在感兴趣身体区域中、的渗透性信息的条件下，对正电子发射断层造影测量感兴趣的患者身体区域的放射性示踪物的记录进行量化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
