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Verbesserte CT-Aufnahmen für Untersuchungen stark schwächender Untersuchungsobjekte
专利权人:
Siemens Healthcare GmbH
发明人:
Thomas, Dr. Flohr,Rainer, Dr. Raupach
申请号:
DE102010005635
公开号:
DE102010005635B4
申请日:
2010.01.25
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要:
Verfahren zur Erfassung von Messdaten (p) eines Untersuchungsobjektes mit einem Computertomographiesystem (C1) für eine Rekonstruktion von Bilddaten (f) des Untersuchungsobjektes, wobei die Messdaten (p) als Projektionen während Umläufen der Strahlungsquelle (C2, C4) um das Untersuchungsobjekt erfasst werden, die Messdatenerfassung für die Bilddaten (f) eines Volumenelementes des Untersuchungsobjektes während einer Mehrzahl von Umläufen erfolgt, und pro Umlauf eine nicht-ganzzahlige Anzahl von Projektionen erfasst wird, so dass sich die Projektionen der Mehrzahl von Umläufen zu einer ganzzahligen Anzahl von Projektionen ergänzen, wobei die Anzahl von Projektionen pro Umlauf multipliziert mit der Integrationszeit die Zeitdauer eines Umlaufs ergibt, wobei die Integrationszeit derart verlängert ist, dass der relative Beitrag des Elektronikrauschens im Vergleich zum Quantenrauschen reduziert wird.A process for the acquisition of measurement data (p) of an object to be examined with a computer tomography system (c1) for a reconstruction of image data (f) of the object to be examined, wherein the measurement data (p) as the projections during travel of the radiation source (c2, c4) around the object to be examined are detected, the measurement data detection, for the image data (f) of a volume element dv of the object to be examined during a plurality of turns, takes place, and per rotation, a not - integral number of projections is detected, so that the projections of the plurality of turns, to an integer number of projections, wherein the number of projections per revolution, multiplied by the integration time the time duration of a revolution is achieved, whereby the integration time is extended in such a way that the relative contribution of the electronic noise is reduced in comparison with the quantum noise.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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