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对经颅超声畸变的基于对侧阵列的校正
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- W·T·史,F·G·G·M·维尼翁,J·E·鲍尔斯,B·S·鲁滨逊,M·R·伯切,V·沙姆达莎尼
- 申请号：
- CN201080038816.3
- 公开号：
- CN102576527A
- 申请日:
- 2010.08.25
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 通过捕获在如正借助二维接收换能器阵列(104、108)接收的超声中的畸变的横向二维特性来校正超声畸变(尤其在经颅成像或经颅治疗中的)。在一些实施例中，通过时间窗来施加透射超声(164)，并且例如一次从一个或多个真实点源或者虚拟点源(160)发射该透射超声，每个点源是单个换能器元件或者缀片或者一组元件或缀片的几何焦点。在一个方面中，缀片可以作为在近场中的小聚焦换能器。在一个版本中，对侧阵列(104、108)是由点源组成。在一些方面，通过自变量方式构造成与接收换能器的阵列结构对应的畸变图使畸变估计具体化，该超声设备被配置成通过修改设备设置而改进超声接收/发射的定位或者校正射束形成，从而改进超声操作。增强包括射束位置可视化、强度预测和射束形状预测。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
