The present invention relates to a detector device for an X-ray phase contrast system 5. The detector device 1 comprises a scintillator 11, an optical grating 12 and a detector 13. The optical grating 12 is arranged between the scintillator 11 and the detector 13. The scintillator 11 converts the emitted X-rays 2 into optical radiation 3. The optical grating 12 is arranged to be an analyzer grating adapted to the phase grating 21 of the X-ray phase contrast system 5. The optical path between the optical grating 12 and the scintillator 11 is devoid of focusing elements for optical radiation. The invention further relates to a method 100 for performing X-ray phase contrast imaging using the detector device 1 described above. The present invention avoids the use of X-ray absorption gratings as G2 gratings in X-ray phase contrast interferometer systems.本発明は、Ｘ線位相コントラストシステム５用の検出器装置に関する。検出器装置１は、シンチレータ１１、光学格子１２及び検出器１３を含む。光学格子１２は、シンチレータ１１と検出器１３との間に配置される。シンチレータ１１は、放射Ｘ線２を光学的放射線３に変換する。光学格子１２は、Ｘ線位相コントラストシステム５の位相格子２１に適応されたアナライザ格子であるように構成される。光学格子１２とシンチレータ１１との間の光路には、光学的放射線用の集束要素がない。本発明は更に、上述の検出器装置１を用いてＸ線位相コントラスト撮像を行う方法１００に関する。本発明は、Ｘ線位相コントラスト干渉計システムにおけるＧ２格子としてのＸ線吸収格子の使用を回避する。
