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一种基于高光谱的果蔬表面损伤检测装置
- 专利权人:
- 华南理工大学
- 发明人:
- 孙大文,谢安国,曾新安,刘丹,韩忠
- 申请号：
- CN201420183159.7
- 公开号：
- CN203824902U
- 申请日:
- 2014.04.15
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 陈文姬
- 摘要：
- 本实用新型公开了一种基于高光谱的果蔬表面损伤检测装置，包括高光谱扫描系统、果蔬旋转系统、果蔬输送系统；所述高光谱扫描系统设于果蔬旋转系统上方；所述果蔬输送系统包括果蔬输入轨道和果蔬输出轨道；所述果蔬输入轨道位于果蔬旋转系统的上方，所述果蔬输出轨道位于果蔬旋转系统的下方；所述果蔬旋转系统包括气缸、第一电机、第二电机、第一滚筒和第二滚筒；所述第一滚筒和第二滚筒位于同一水平面，第一滚筒与第一电机连接，第二滚筒与第二电机连接；所述第一滚筒与气缸连接，所述气缸用于控制第一滚筒远离或靠近第二滚筒。本实用新型可获得待测果蔬表面的全部光谱图像，避免了食品检测中出现盲点，减少了食品分级中的误判。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
