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APPAREIL ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE PAR IMPÉDANCE ÉLECTRIQUE « HAUTE RÉSOLUTION »
专利权人:
Wei;WANG
发明人:
WANG, Wei
申请号:
GBGB2015/050432
公开号:
WO2015/121681A1
申请日:
2015.02.16
申请国别(地区):
GB
年份:
2015
代理人:
摘要:
A method of high resolution electrical impedance imaging comprising: using an array of sampling points (22) defined by an electrode frame (30) at a first position, wherein the electrode frame defines a relative displacement of sampling points; and using a different array of sampling points defined by the same electrode frame at a different, second positionUn procédé d'imagerie par impédance électrique haute résolution comprenant : l'utilisation d'un réseau de points d'échantillonnage (22) défini par un cadre d'électrode (30) au niveau d'une première position, dans lequel cadre d'électrode définit un déplacement relatif de points d'échantillonnage; et au moyen d'un réseau différent de points d'échantillonnage défini par la même électrode cadre au niveau d'une seconde position différente
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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