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Device, sensor, sensor element and method for measuring the profile of a spinal column and for measuring changes in the profile of the spinal column
专利权人:
Andreas Bausewein
发明人:
Andreas Bausewein,Thomas Bierhoff,Dirk David Goldbeck,Tobias Happel,Hans-Jürgen Schrage
申请号:
US12225708
公开号:
US08241231B2
申请日:
2007.03.07
申请国别(地区):
US
年份:
2012
代理人:
摘要:
The profile of the spinal column and changes in the profile of the spinal column are continuously measured during movement along the entire spinal column in all degrees of freedom of its deformation.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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