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Verfahren und Vorrichtung für eine Rundumsichtinspektion
专利权人:
ROBERT BOSCH GMBH
发明人:
SEIFFERT, THOMAS,Thomas Seiffert
申请号:
DE102011079067
公开号:
DE102011079067A1
申请日:
2011.07.13
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Entzerrung eines Abbildes eines Bilderfassungssystems einer endoskopischen Inspektionsvorrichtung zur Rundumsicht, wobei mit dem Bilderfassungssystem ein Gesamtbild einer in einem Prüfkörper innen liegenden Prüfoberfläche erfasst und in einem Bildnachverarbeitungsvorgang ein Gesamtabbild der Prüffläche zeilenweise aus einzelnen Bildpunkten eines Bildstapels zusammengesetzt wird, die sich in einem ringförmigen Fokusbereich des Gesamtbildes befinden.Erfindungsgemäß ist dabei vorgesehen, dass die Entzerrung des Abbildes aus dem Bezug einer Scan-Achse zur Achse des Prüfkörpers bestimmt wird.Eine erfindungsgemäße Vorrichtung sieht zur Durchführung des Verfahrens ein Bilderfassungssystem vor, in der softwaremäßig eine Bildentzerrung implementiert ist, mit der während oder am Ende eines Scan-Vorganges die aktuelle Position im Prüfkörper entlang einer Scan-Achse bestimmbar sowie weiter entfernte markante Bauteilgeometrien auswertbar sind, und daraus die Lage der Scan-Achse zur Bauteil-Achse bestimmbar sowie Entzerrungsparameter zur Korrektur von Lage- und Winkelfehler ableitbar sind.Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren und der entsprechenden Vorrichtung können Artefakte infolge von Lage- und/ oder Winkelfehler bei der Rundumsichtinspektion minimiert und die Bildqualität der Abbildung verbessert werden.The method involves detecting a complete image of a testing surface (21) that lies inside a testing body (20), where the complete image of the testing surface consists of individual image points of an image stack in an image post-processing process. The image points are provided in an annular focal point region (40) of the complete image. Equalization of the image is determined in reference to a scan-axis (30) of the testing body. An actual position at the testing body is determined, and the axis of the testing body is derived from a CAD-model of the testing body. An independent claim is also included for a device for equalization of an
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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