A test meter for receiving a test strip comprises: (a) a housing； (b) electronic circuitry disposed within the housing and (c) a strip port connector connected to the electronic circuitry and extending to an opening in the housing, said strip port connector connecting the electronic circuitry with a received test strip. The strip port connector contains a pair of top and bottom contacts, said top and bottom contacts having a proximal end and a distal end and a central contact portion, the top and bottom contacts of the pair are transversely aligned with one another； and the distal ends of the top and bottom contacts are separated or separable from one another by insertion of a test strip between the opposed contacts. The contacts and the meter are adapted to permit detection of faulty contacts and/or coding associated with an inserted test strip.테스트 스트립을 수납하기 위한 테스트 미터는, (a) 하우징, (b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로 및 (c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터를 포함한다. 상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고, 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며, 상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입함으로써 서로 분리되거나 서로 분리될 수 있다. 상기 접점들 및 상기 미터는 삽입된 테스트 스트립과 관련이 있는 잘못된 접점들 및/또는 부호화의 검출을 허용하는데 적합하다.
